[发明专利]一种基于白光共焦传感器的曲面粗糙度测量设备有效
| 申请号： | 202110499843.0 | 申请日： | 2021-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN113310440B | 公开（公告）日： | 2022-11-04 |
| 发明（设计）人： | 孟文俊;林波;陈长安;李宗亮;林培辉;杨玉柱;钟映寰;刘鹏程 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院材料研究所 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 陈法君 |
| 地址： | 621700 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于白光共焦传感器的曲面粗糙度测量设备，所述曲面粗糙度测量设备包括：基座、旋转支撑模块、工件装夹模块、测头组件模块和计算处理单元；所述基座上方设置有旋转支撑模块，用于支撑工件装夹模块和测头组件模块，同时实现工件装夹模块的旋转；旋转支撑模块的中间设有工件装夹模块，实现工件的装夹和定位；旋转支撑模块的上部装有测头组件模块，用于控制测头的垂直运动；测头组件模块与计算处理单元相连，通过所述计算处理单元实现设备的集成控制与粗糙度的测量。能够实现曲面类零件任意部位的粗糙度测量，及实现设备的相对便携以方便运输。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 白光 传感器 曲面 粗糙 测量 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院材料研究所，未经中国工程物理研究院材料研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110499843.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
