[发明专利]磁致折变光纤折射率测量系统在审

专利信息
申请号: 202110500314.8 申请日: 2021-05-08
公开(公告)号: CN113281011A 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 王廷云;黄素娟;黄彩红;董艳华;闫成;孙婉婷;黄怿 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01M11/04;G01M11/00
代理公司: 贵州派腾知识产权代理有限公司 52114 代理人: 唐斌
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种磁致折变光纤折射率测量系统,包括光源101,通过分光装置102将光源101的光分为两束,一束光作为参考光,另一束作为测量光,待测光纤105置于磁场中,测量光经过待测光纤105透射后和参考光进入光路干涉模块108。激光光源通过单模光纤连接输出到分光设备,分光设备分路器将光源分为两束,经反光镜改变路径后将经过磁致折变光纤的物光与参考光进行耦合合束,CCD感光界面形成干涉,通过调整分路器可以调节物光波与参考光波角度,光线聚焦获取清晰的全息图。通过干涉信息处理从而获取磁敏感光纤磁场下的折射率变化情况,进一步验证磁敏感掺杂元素光纤的磁致折变特性。
搜索关键词: 折变 光纤 折射率 测量 系统
【主权项】:
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