[发明专利]一种基于400G光模块的测试方法及测试电路有效
| 申请号： | 202110505103.3 | 申请日： | 2021-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN113242089B | 公开（公告）日： | 2023-04-14 |
| 发明（设计）人： | 吕利平 | 申请（专利权）人： | 上海剑桥科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/077 | 分类号： | H04B10/077;G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海港慧专利代理事务所(普通合伙) 31402 | 代理人： | 卞小婷 |
| 地址： | 201114 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于400G光模块的测试方法，其中：包括，上位机控制标准光电模块工作于伪随机码模式和误码检测模式，通过标准光电模块替代高端误码仪，同时标准光电模块和待测光电模块均设置于同一个生产测试板上，采用16对高速电差分信号组即可连接，无需32个昂贵的射频连接线，通过上述连接方式，实现对400G光模块的生产测试，既节省了高端误码仪、32个昂贵的射频连接线，也大大降低了测试板的更换成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 400 模块 测试 方法 电路 | ||
【主权项】：
暂无信息
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