[发明专利]芯片尺寸图像测量的自适应建模方法在审
| 申请号： | 202110505566.X | 申请日： | 2021-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN113256569A | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 梁玉;陈浩;郑军 | 申请（专利权）人： | 聚时科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/62;G01B11/00;G01B11/02;G01B11/24 |
| 代理公司： | 湖北天领艾匹律师事务所 42252 | 代理人： | 王能德 |
| 地址： | 200000 上海市杨浦区*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明属于视觉检测技术领域，具体涉及一种芯片尺寸图像测量的自适应建模方法，包括：相机标定获取像素尺寸，建立芯片设计尺寸与像素尺寸之间的映射关系，将用户输入的芯片设计尺寸根据映射关系转换到像素坐标系中，在像素坐标系下建立芯片的量测ROI模板。通过本方法用户只需要输入图纸上的芯片尺寸，自适应的建立量测ROI模板，对芯片尺寸进行测量，解决了传统方法用户的需要人工手动交互设置量测ROI模板，使用难度大的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 尺寸 图像 测量 自适应 建模 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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