[发明专利]一种相位调制器的测试系统及测量方法有效
| 申请号： | 202110509287.0 | 申请日： | 2021-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN113225126B | 公开（公告）日： | 2022-08-19 |
| 发明（设计）人： | 刘旭;曹林浩;王百航;孙小菡;王俊嘉;柏宁丰;樊鹤红;沈长圣;董纳 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | H04B10/073 | 分类号： | H04B10/073;G01R19/00 |
| 代理公司： | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人： | 任志艳 |
| 地址： | 211189 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种相位调制器的测试系统及测量方法，激光器产生一束激光经MZ干涉仪分为两路光信号；将上路光信号输入待测的相位调制器，待测的相位调制器由两个微波源产生的合路微波信号对光信号进行调制；将下路光信号输入移相器后，上下两路光信号合路后经过光电探测器转换为电信号，并得到对应的电谱图和功率参数，根据功率参数可以计算得到调制相位、调制系数及半波电压。本发明通过双源移相自外差的测量方法，能够完成对光电探测器响应度的消除实现自校准测量，有效提高了测量精度；同时，本发明设计的系统还能通过改变移相器移相值来测出相位调制器的调制相位，进而测得其线性度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相位 调制器 测试 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
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