[发明专利]梳型栅结构HEMT射频器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202110511019.2 申请日: 2021-05-11
公开(公告)号: CN113257910B 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 孙慧卿;丁霄;黄志辉;王鹏霖;李渊;夏晓宇;夏凡;张淼;马建铖;谭秀洋 申请(专利权)人: 华南师范大学
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/423;H01L21/335
代理公司: 北京清控智云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11919 代理人: 仵乐娟
地址: 510630 广东省广州市天*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及梳型栅结构HEMT射频器件及其制备方法,包括依次层叠的AlN缓冲层、Al组分渐变的AlGaN缓冲层、GaN沟道层、AlGaN层、源极和漏极、位于源极和漏极之间的梳型栅;梳型栅包括栅头和栅足,栅足包括第一、第二和第三子栅足,沿源极指向漏极的方向上,第一、第二和第三子栅足依次间隔设置于AlGaN层表面,相邻子栅足之间设置空气间隔。该梳型栅结构的设置,减小了栅极电阻,降低了噪声系数,同时提高了增益;栅头与栅足之间没有钝化层介质,相邻栅足之间的间隙为空气,降低了栅极的寄生电容,提高了截止频率;三个栅足分隔开设置,增强了栅极对于沟道的控制,跨导随栅源电压变化更加稳定,明显提高线性度。
搜索关键词: 梳型栅 结构 hemt 射频 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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