[发明专利]基于深度迁移学习的检测方法、存储介质和检测系统在审
| 申请号： | 202110511587.2 | 申请日： | 2021-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN112991344A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 孙进;谷孝东;纪昌杰;刘克志;吕佳霖;鞠沛;曹葵康;刘明星 | 申请（专利权）人： | 苏州天准科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/62;G06K9/34;G06K9/62;G06N20/00 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 徐颖聪 |
| 地址： | 215000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种基于深度迁移学习的检测方法、存储介质和检测系统,属于图像数据处理领域，具体涉及基于人工智能算法的检测技术，方法包括构建大规模工业缺陷检测图库、构建基础模型、基于少量标注的迁移学习、以及传统算法和深度学习的融合，对检测模型建立二次判断规则，形成针对待测件的缺陷检测判断模型。方案采用了适用于工业领域的语义分割损失函数，适合对小缺陷进行检测，解决了小物体漏检问题；二次判断大大降低了检出结果的误判率；采用迁移学习技术，通过基础模型的构建和迁移学习的引入，在百量级的小样本基础上即可对多种项目检测进行应用，提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 深度 迁移 学习 检测 方法 存储 介质 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州天准科技股份有限公司，未经苏州天准科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110511587.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种序列标注方法、装置及设备
- 下一篇：一种基于区块链和物联网的货运管理系统
