[发明专利]一种基于环形器的上下行衰减移相测试系统在审
| 申请号： | 202110518127.2 | 申请日： | 2021-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN113219327A | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 马长春;李宇翔 | 申请（专利权）人： | 杭州永谐科技有限公司成都分公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京沁优知识产权代理有限公司 11684 | 代理人： | 金慧玲 |
| 地址： | 610000 四川省成都市自由贸易试*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于环形器的上下行衰减移相测试系统，包括衰减移相单元，用于对电磁信号进行振幅衰减处理和相位移相处理，其特征在于：还包括与衰减移相单元的输入端和输出端分别连接的第一功分器单元和第二功分器单元，第一功分器单元的另一端连接有第一环形器单元，第二功分器单元的另一端连接有第二环形器单元，第一环形器单元和第二环形器单元内分别设有若干个环形器，若干所述环形器内设有上行通路和下行通路。本发明提供了一种基于环形器的上下行衰减移相测试系统，通过设置环形器和上下行单独的功分器以及相应的衰减模块和移相模块，将上下行衰减模块和移相模块相分开，上行信道和下行信道可同时工作，实现了全双工通信。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 环形 下行 衰减 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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