[发明专利]射频参数调试方法、显示方法、装置和磁共振成像系统有效
| 申请号： | 202110524587.6 | 申请日： | 2021-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN113391849B | 公开（公告）日： | 2023-09-22 |
| 发明（设计）人： | 温林飞;沈振华;陈航 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F9/445 | 分类号： | G06F9/445;G16H40/60 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 马云超 |
| 地址： | 201807 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种射频参数调试方法、显示方法、装置、计算机设备、存储介质和磁共振成像系统。所述方法包括：获取多个射频通道的配置参数，对每个射频通道的配置参数进行数据可视化处理，得到对应每个射频通道的射频信号输出数据；读取多个射频通道的射频信号输出数据进行输出显示；响应于输出显示的目标射频信号输出数据的配置参数导出请求，导出目标射频信号输出数据对应的目标射频通道的配置参数；接收目标射频通道的数据调试请求，更新目标射频通道的配置参数。采用本方法提高了射频参数调试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 参数 调试 方法 显示 装置 磁共振 成像 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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