[发明专利]一种星载一维综合孔径辐射计的馈源口面外定标装置有效
申请号: | 202110525137.9 | 申请日: | 2021-05-13 |
公开(公告)号: | CN113218510B | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 刘瑞;吕利清;赵锋;栾英宏;李宁杰 | 申请(专利权)人: | 上海航天测控通信研究所 |
主分类号: | G01J5/80 | 分类号: | G01J5/80;G01J5/53 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 胡晶 |
地址: | 201109 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种星载一维综合孔径辐射计的馈源口面外定标装置,包括:多频段馈源及接收机阵列、高温定标源、低温定标源、驱动机构、功率及信号传输组件、控制配电模块、数据采集处理模块、支撑结构;多频段馈源及接收机阵列排布在支撑结构上,驱动机构安装在支撑结构上;高温定标源、低温定标源与驱动机构连接;功率及信号传输组件的第一端与数据采集处理模块电连接,第二端分别与高温定标源、低温定标源、驱动机构电连接;控制配电模块与多频段馈源及接收机阵列、高温定标源、低温定标源、驱动机构、数据采集处理模块电连接;数据采集处理模块与多频段馈源及接收机阵列电连接。本发明结构简单、易于实现,有效提高了辐射计的系统定标精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 星载一维 综合 孔径 辐射计 馈源 口面外 定标 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海航天测控通信研究所,未经上海航天测控通信研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110525137.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。