[发明专利]功率半导体器件特性检测分析系统在审
| 申请号： | 202110526145.5 | 申请日： | 2021-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN113238135A | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 赵艳鹏;任志军;王丽会;齐新立;庞智辉 | 申请（专利权）人： | 北京博电新力电气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种功率半导体器件特性检测分析系统，包括数据采集模块，PLC控制模块，多档位切换模块，电流测试模块，电压测试模块，功率测试模块，脉冲测试模块，数据分析模块，监测模块；所述数据采集模块将采集的电源信号输入至PLC控制模块；所述PLC控制模块通过多档位切换模块分别控制电流测试模块、电压测试模块、功率测试模块、脉冲测试模块；PLC控制模块分别控制所述数据分析模块和监测模块。本发明在于提供一种智能化程度高，测试精准，结构合理，成本较低，功能多样，可靠性强的一种功率半导体器件特性检测分析系统。 | ||
| 搜索关键词： | 功率 半导体器件 特性 检测 分析 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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