[发明专利]相差显微成像方法、装置、电子设备及存储介质有效
申请号: | 202110528499.3 | 申请日: | 2021-05-14 |
公开(公告)号: | CN113284222B | 公开(公告)日: | 2023-09-26 |
发明(设计)人: | 张冀聪;王海波 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学合肥创新研究院(北京航空航天大学合肥研究生院) |
主分类号: | G06T15/80 | 分类号: | G06T15/80;G06T7/00;G06T7/90 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 230000 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明实施例公开了一种相差显微成像方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括:获取采用普通相差显微镜观察目标对象所得的具有明暗差异的目标图像;确定所述目标图像的图像细节信息,并向所述图像细节信息中添加浮雕效果得到图像细节浮雕;依据所述图像细节浮雕生成所述目标图像的浮雕效果图像,以实现浮雕效果的相差显微成像。采用申请提供的技术方案,针对普通相差显微镜的样本成像难以获得类似微分干涉相差显微镜DIC或者霍夫曼显微镜层次感浮雕效果,不需要改变普通相差显微镜的光路设计,充分挖掘通过普通相差显微镜拍摄的包括目标对象的目标图像中的相位差异信息,向图像细节信息中添加浮雕效果使得目标图像具有立体感浮雕效果。 | ||
搜索关键词: | 相差 显微 成像 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学合肥创新研究院(北京航空航天大学合肥研究生院),未经北京航空航天大学合肥创新研究院(北京航空航天大学合肥研究生院)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110528499.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种通过电机驱动进行防侵蚀自清理的无刷潜水电机
- 下一篇:一种高使用寿命电表