[发明专利]芯片验证系统、芯片验证方法在审
| 申请号： | 202110543610.6 | 申请日： | 2021-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN113220518A | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 田玉利 | 申请（专利权）人： | 北京奕斯伟计算技术有限公司;广州全盛威信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人： | 侯菲菲;刘铁生 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提供一种芯片验证系统、芯片验证方法，芯片验证系统包括：配置模块，其用于接收用户输入的第一配置激励；激励模块，其用于根据第一配置激励生成第一激励数据，第一激励数据的封装格式与待验证芯片所要求的封装格式相同；待验证模块，其用于放置待验证芯片，使得待验证芯片生成第一输出数据；参考模块，其内置有参考模型，参考模块用于生成第二输出数据；对比模块，其用于根据第一输出数据与第二输出数据的对比结果确定待验证芯片的待验证功能是否通过验证，能够确定待验证芯片的待验证功能是否在其特殊格式要求下是否通过验证，提高芯片验证系统进行功能验证的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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