[发明专利]一种碳化硅晶体的生长工艺有效

专利信息
申请号: 202110544234.2 申请日: 2021-05-19
公开(公告)号: CN113026106B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 皮孝东;徐所成;王亚哲;姚秋鹏;罗昊;钟红生;杨德仁 申请(专利权)人: 浙江大学杭州国际科创中心
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B23/00;C30B25/00
代理公司: 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 代理人: 司晓蕾
地址: 311200 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种新型的碳化硅晶体的生长工艺。通过这种方法生长碳化硅单晶,既解决了单独使用PVT方法所带来的源料无法持续供给及C/Si比失衡问题,也解决了PVT方法初期籽晶上面沉积成成核困难的问题。另外,通过调节出气管的挡板角度,既解决了单独使用HTCVD生长成本过大的问题,提高了源料的利用率,也解决了长时间的生长中排气口会发生封堵的问题。而且通过在炉体内部跟进气管道上端口平行处添加过滤网,保证了在整个生长过程中,防止了料粉中的固体颗粒进入到籽晶上面而形成固体粒子包裹。
搜索关键词: 一种 碳化硅 晶体 生长 工艺
【主权项】:
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