[发明专利]光学检测方法和光学检测装置在审
| 申请号： | 202110544565.6 | 申请日： | 2021-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN113702949A | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | H·范德布洛克 | 申请（专利权）人： | 迈来芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/495 | 分类号： | G01S7/495 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 任曼怡;黄嵩泉 |
| 地址： | 比利时*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在光学检测方法中，生成具有载波信号周期的载波信号，并在曝光时间段内生成代码序列。序列中的每个代码(406)包括多个码元(408、410、412、414、416)，这些码元之间具有定时延迟(418、420、422、424)。响应于代码序列(406)根据码元(408、410、412、414、416)的值来对载波信号进行移相。将经调制的载波信号应用于光源，由此对所发射的光进行调制。响应于接收到的反射光而生成电传感器信号。对经调制的载波信号应用多个预定的相位偏移值，并且通过根据间接飞行时间测量技术在曝光时间段内将所述得到的信号应用于电传感器信号来生成并存储多个电输出信号。每个码元(408、410、412、414、416)具有大于载波信号周期的持续时间。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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