[发明专利]双色探测器及其制备方法有效
申请号: | 202110546523.6 | 申请日: | 2021-05-19 |
公开(公告)号: | CN113327991B | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
发明(设计)人: | 王国伟;李农;刘冰;朱小贵;李宁;牛智川 | 申请(专利权)人: | 南京国科半导体有限公司;中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L31/0304 | 分类号: | H01L31/0304;H01L31/101;H01L31/105;H01L31/109;H01L31/18 |
代理公司: | 成都市熠图知识产权代理有限公司 51290 | 代理人: | 兰小平 |
地址: | 210008 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及探测器技术领域,公开了一种双色探测器及其制备方法,该探测器包括:依次生长在GaAs衬底上的平滑层、成核层、GaSb或AlSb第一缓冲层、AlInSb第二缓冲层、InAsSb中长波通道层、InGaSb间隔层和InGaSb短中波通道层,所述InAsSb中长波通道层由下至上包括:第一N型下接触层、N型吸收层、B型AlInSb势垒层及N型上接触层,所述InGaSb短中波通道层由下至上包括:第二N型下接触层、I型吸收层和P型上接触层,第一N型下接触层之上设有下电极,所述P型上接触层之上设有上电极,所述上电极和下电极通过钝化层隔绝。本发明双色探测器在设计时能够通过微调材料组分以在较宽的光谱范围内实现探测谱段的灵活选择,使单一器件结构可覆盖宽光谱探测需求。同时实现大尺寸焦面制作。 | ||
搜索关键词: | 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京国科半导体有限公司;中国科学院半导体研究所,未经南京国科半导体有限公司;中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110546523.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:图像显示方法、装置、电子设备及可读存储介质
- 下一篇:一种便于收料的冲压模具
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的