[发明专利]一种内存测试方法、装置及内存控制器有效
| 申请号： | 202110548898.6 | 申请日： | 2021-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN112988491B | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 文超;孙向东 | 申请（专利权）人： | 新华三半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 项京;高莺然 |
| 地址： | 610016 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供了一种内存测试方法、装置及内存控制器。方案如下：接收来自BIST模块的第一测试数据、以及需要测试的内存的存储空间标识；将第一测试数据写入存储空间标识对应的第一存储空间；从第一存储空间中读取第一实际数据，并将读取到的第一实际数据发送至BIST模块，以使BIST模块比较第一测试数据和读取到的第一实际数据，得到第一存储空间的测试结果。应用本申请实施例提供的技术方案，在降低了内存测试成本的同时，提高了内存测试的效率，以及提高了内存测试的普及性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存 测试 方法 装置 控制器 | ||
【主权项】：
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