[发明专利]一种具有高正向电流密度的沟槽肖特基二极管在审
申请号: | 202110553005.7 | 申请日: | 2021-05-20 |
公开(公告)号: | CN113193053A | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | 孔谋夫;胡泽伟;陈宗棋;高佳成;王彬;郭嘉欣;黄柯 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/47 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 甘茂 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明属于半导体技术领域,提供一种具有高正向电流密度的沟槽肖特基二极管,用以克服沟槽结构的肖特基二极管的正向电流密度降低的问题,具体涉及高正向电流密度的氧化镓沟槽肖特基二极管、碳化硅沟槽结势垒肖特基二极管及三维碳化硅沟槽结势垒肖特基二极管。本发明的沟槽肖特基二极管中,仅有位于沟槽底部的第二金属阳极4下设置氧化物绝缘层或P型掺杂区,使得沟槽的侧壁与N型漂移区的上表面的第一阳极金属3与N型漂移区1形成肖特基接触,增大了电流的导通面积,因此能够减小比导通电阻,从而增大了正向导通电流,有效改善器件的性能;与此同时,不影响器件的击穿电压和反向漏电流的影响。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 正向 电流密度 沟槽 肖特基 二极管 | ||
【主权项】:
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