[发明专利]近红外单光子雪崩二极管探测器及制作方法有效
申请号: | 202110555818.X | 申请日: | 2021-05-21 |
公开(公告)号: | CN113314638B | 公开(公告)日: | 2022-07-26 |
发明(设计)人: | 魏子琛;赵昊;胡晓峰;严进 | 申请(专利权)人: | 武汉光迹融微科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L31/18 |
代理公司: | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人: | 向彬 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种近红外单光子雪崩二极管探测器:在p型衬底(10)中设有p型埋层(6)和重掺杂n型埋层(2),利用p型埋层(6)和重掺杂n型埋层(2)之间的PN结来形成深的雪崩区,提高SPAD器件对近红外光子的探测效率。而且雪崩区位置距离器件表面很远,表面缺陷对雪崩区的影响很小,降低了器件的暗计数,提高了器件对光子探测的准确性。该SPAD器件可作为近红外单光子激光雷达的探测器件,应用于智能汽车自动驾驶,人脸识别和三维成像等领域。本发明还提供了近红外单光子雪崩二极管探测器的制作方法。 | ||
搜索关键词: | 红外 光子 雪崩 二极管 探测器 制作方法 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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