[发明专利]基于双天线InSAR的变形检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110558295.4 | 申请日： | 2021-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN113341411A | 公开（公告）日： | 2021-09-03 |
| 发明（设计）人： | 潘斌 | 申请（专利权）人： | 潘斌 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90;G01S7/41;G01B15/06 |
| 代理公司： | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 | 代理人： | 易贤卫 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于双天线I nSAR的变形检测方法、装置、设备及存储介质，方法包括：获取变形前后双天线的回波信息，并对回波信息进行处理后，得到变形前后两次的SAR图像集，SAR图像集包括主SAR图像以及从SAR图像；获取双天线I nSAR在变形前后的轨迹信息以及双天线I nSAR的参数；根据SAR图像集、双天线I nSAR在变形前后的轨迹信息以及双天线I nSAR的参数，计算出变形前后的两个干涉相位；根据两个干涉相位、双天线I nSAR在变形前后的轨迹信息以及双天线I nSAR的参数计算出地物目标在雷达成像视线方向的形变量。本发明解决了现有技术中单天线I nSAR监测变形的相干性差，精度不高的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 天线 insar 变形 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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