[发明专利]基于残差网络的分子筛SEM图像分类方法和系统在审
| 申请号： | 202110559942.3 | 申请日： | 2021-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN113159231A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 辛佳德;杜文莉;彭鑫;韦章鹏;贺嵩 | 申请（专利权）人： | 华东理工大学 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62;G06N3/04 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 骆希聪 |
| 地址： | 200237 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于残差网络的分子筛SEM图像分类方法和系统。分类方法包括如下的步骤：构建SEM图像样本库；基于经过类别标注的多个SEM图像的全部或其中一部分，构建SEM图像类别数据集；构建残差网络图像分类模型，并根据SEM图像类别数据集中的SEM图像对残差网络图像分类模型训练；以及利用训练后的残差网络图像分类训练模型对多个SEM图像和/或重新拍摄的分子筛SEM图像进行分类。本发明的一种基于残差网络的分子筛SEM图像分类方法和系统可以简单方便并且高准确性的对分子筛图像质量和形貌进行筛选分类。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 网络 分子筛 sem 图像 分类 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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