[发明专利]磁粒子成像检测系统、方法、电子设备有效
| 申请号： | 202110562735.3 | 申请日： | 2021-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN113288106B | 公开（公告）日： | 2022-11-15 |
| 发明（设计）人： | 田捷;张浩然;惠辉;张鹏;杨鑫 | 申请（专利权）人： | 中国科学院自动化研究所 |
| 主分类号： | A61B5/0515 | 分类号： | A61B5/0515 |
| 代理公司： | 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙) 11576 | 代理人： | 郭文浩;尹文会 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于医学成像检测技术领域，具体涉及一种三维磁粒子成像检测系统、方法、电子设备，旨在解决磁粒子成像检测装置结构封闭、体积大、灵活性差的问题；其中系统包括永磁体组件、驱动线圈组件、接收线圈、电机转台和处理电路，永磁体组件用于在检测空间中产生无磁场线；驱动线圈组件用于产生垂直于无磁场线的振荡磁场；接收线圈用于接收检测空间中磁纳米粒子产生的磁响应信号；电机转台在动力装置的驱动下可旋转；处理电路包括带阻滤波电路、放大器与A/D模块，带阻滤波电路用于衰减检测信号中的基频信号；放大器用于进行检测信号的低噪声放大；A/D模块用于对信号进行采样并将其转换为数字量；本发明结构紧凑，体积小，可实现开放式检测。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 成像 检测 系统 方法 电子设备 | ||
【主权项】：
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