[发明专利]集成电路绕线质量分析方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202110563823.5 | 申请日： | 2021-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN113283212A | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 王洪生;梁洪昌 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398;G06F30/394;G06F30/392 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云;侯鉴玻 |
| 地址： | 300392 天津市华苑产业区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种集成电路的绕线质量分析方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。该绕线质量分析方法包括：从集成电路的版图中获取至少一个目标走线区域；确定经过至少一个目标走线区域中每个目标走线区域的绕线组，绕线组包括至少一条绕线；以及针对每个目标走线区域，计算绕线组的迂回程度表征参数，以根据迂回程度表征参数确定集成电路的绕线质量。该方法能够降低分析集成电路的绕线质量所消耗的时间成本和人力成本，提高绕线质量分析的量化程度，并且提升绕线质量分析的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 质量 分析 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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