[发明专利]基于测试点的测试设计方法、装置、电子设备和介质在审
| 申请号： | 202110563827.3 | 申请日： | 2021-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN113177002A | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 张湘;关舒;徐婧天;赵燕 | 申请（专利权）人： | 中国工商银行股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张琛 |
| 地址： | 100140 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种基于测试点的测试设计方法、装置、电子设备和介质。该基于测试点的测试设计方法和装置可用于金融或大数据技术领域。该方法包括：包括：定义多个测试点；选择各个测试点的影响因子；根据各个测试点，确定各个影响因子的评价数值；以及通过第一评价函数，计算同一测试点的第一风险分值，其中，测试点是进行测试案例设计的最小单元，每一个测试点包括多个影响因子，至少两个测试点的同一影响因子的评价数值彼此不同，第一评价函数的变量与影响因子的评价数值相关。本公开的基于测试点的测试设计方法能够提高测试设计的合理性，使测试案例得到的结果与实际情况更加吻合。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 测试 设计 方法 装置 电子设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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