[发明专利]一种曲面多探针测试治具有效

专利信息
申请号: 202110564779.X 申请日: 2021-05-24
公开(公告)号: CN113009324B 公开(公告)日: 2021-08-03
发明(设计)人: 王天石;张怡;李立;邓超;杜小东;刘正勇;范民;张义萍 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十九研究所
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/073
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 贾年龙
地址: 610036 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种曲面多探针测试治具,包括自适应主体及测试探针,所述自适应主体由多块安装子板通过转轴连接而成,安装子板通过转轴调整旋转角度匹配待测电路,每块安装子板上设有若干安装孔,测试探针安装在安装孔中;测试时,测试探针通过信号线连接至测试主机。本发明提供的测试治具可以根据待测试曲面的曲率进行自适应调节,可以满足不同曲率的曲面电路的测试需求;治具上的探针所布置的位置可以根据待测试的曲面电路上的测试点的分布情况进行相匹配的排布和组合,满足曲面复杂多样化电路的测试需求;还具有径向可调节能力,可以实现不可展开曲面电路上不在同一等高线位置分布的多个测试点的同时测试需求。
搜索关键词: 一种 曲面 探针 测试
【主权项】:
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