[发明专利]VI源供电控制方法、装置、半导体测试机及存储介质在审
| 申请号： | 202110565455.8 | 申请日： | 2021-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN113315095A | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 胡江;钟锋浩 | 申请（专利权）人： | 杭州长川科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H02H7/20 | 分类号： | H02H7/20;H02H3/08 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 聂磊 |
| 地址： | 310051 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种VI源供电控制方法、装置、半导体测试机及存储介质，该VI源供电控制方法包括：在控制单元启动后，获取低压供电电源在预设低压上电阶段内的第一供电信息；根据第一供电信息，判断低压供电电源在预设低压上电阶段内是否正常上电；在判断到低压供电电源在预设低压上电阶段内正常上电的情况下，初始化高压VI线路，并控制高压供电电源为完成初始化的高压VI线路供电；检测高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息，并根据线路状态信息确定VI源供电结果。通过本申请，解决半导体测试机上电启动电流大、高低压电源同时启动损坏线路器件的问题，实现了分阶段上电、控制上电电流，保护器件及信号链路不受损坏的有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | vi 供电 控制 方法 装置 半导体 测试 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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