[发明专利]一种DDR芯片测试装置和方法在审
| 申请号： | 202110565616.3 | 申请日： | 2021-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN113257333A | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 邬刚;陈永 | 申请（专利权）人： | 杭州加速科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/36;G11C29/38 |
| 代理公司： | 浙江杭知桥律师事务所 33256 | 代理人： | 陈丽霞 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州市余杭区*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及芯片测试技术，公开了一种DDR芯片测试装置和方法，其包括通讯单元、主控单元和至少一个测试单元；测试单元与通讯单元连接，通讯单元与主控单元连接；主控单元为图形化可编程客户端单元。图形化可编程客户端单元包括资源管理单元、测试编程单元、测试状态单元和测试记录单元；本发明通过将主控单元设置为图形化可编程客户端单元，其在进行DDR芯片测试的时候，整个测试及开发过程简单且直观；对于测试人员的技能要求低，同时可以缩短测试编程时间；采用网络交换机进行网络部署，在进行测试过程中能够灵活扩展测试单元数量，从而灵活扩展芯片的并行测试数量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ddr 芯片 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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