[发明专利]一种低功耗的屏蔽栅半导体功率器件测试装置在审
| 申请号： | 202110568271.7 | 申请日： | 2021-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN113238136A | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 陈海彬;张恩齐 | 申请（专利权）人： | 陈海彬 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 日照市聚信创腾知识产权代理事务所(普通合伙) 37319 | 代理人： | 敖勇 |
| 地址： | 362332 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种低功耗的屏蔽栅半导体功率器件测试装置，涉及导体功率器件测试技术领域，以解决在进行半导体功率器件测试时，长时间的接触会使得产生高热，即便测量出现误差，也很难及时发现，导致测试数据失准，并且附着的灰尘，在高热环境下会产生静电，从而影响电阻测试的问题，包括支撑底座；所述支撑底座为倒置的T型状结构；所述支撑底座的竖板前端固定安装有横向水平的调整箱，调整箱为长方体箱状结构，调整箱的前端侧壁为开口端。本发明实现了在带动挂座移动的同时，散热扇又能够对检测台进行散热，可避免器件在检测时高温而影响数据检测，从而保证了检测的精准性，同时散热扇随丝杆旋转，不额外耗能，又满足节能需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功耗 屏蔽 半导体 功率 器件 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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