[发明专利]一种基于逐像素调控的自适应条纹投影三维测量方法在审
| 申请号： | 202110570436.4 | 申请日： | 2021-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN113310432A | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 冯维;徐仕楠;王恒辉;周世奇;程雄昊;吴庆华;熊芝;翟中生 | 申请（专利权）人： | 湖北工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 罗飞 |
| 地址： | 430068 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于逐像素调控的自适应条纹投影三维测量方法，针对传统方法中对三维物体表面高光部分出现相位信息丢失的问题，提出结合牛顿插值多项式拟合相机‑投影仪响应曲线和多邻域匹配的方法来求取高光区域的最佳投影灰度值。首先搭建实验平台，通过CCD相机采集高反光金属表面具有不同投影灰度值的静态灰度图像序列，然后结合牛顿插值多项式快速拟合过饱和像素点的相机‑投影仪响应曲线，获得投影灰度值与相机采集灰度值之间的映射关系；通过该响应曲线求得过饱和像素点的最佳投影灰度值，进而合成自适应投影条纹图；最后将生成的自适应投影条纹图投射至高反光物体表面进行三维物体的重建工作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 像素 调控 自适应 条纹 投影 三维 测量方法 | ||
【主权项】：
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