[发明专利]基于深层神经网络的电子元器件批量信息检测方法及系统有效
| 申请号： | 202110572538.X | 申请日： | 2021-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN113205511B | 公开（公告）日： | 2023-09-29 |
| 发明（设计）人： | 朱涛;王小龙;刘天赐;王志伟;杨一粟 | 申请（专利权）人： | 中科芯集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/80;G06V10/762;G06V20/30;G06N3/0464;G06N3/08 |
| 代理公司： | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人： | 杨立秋 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡市滨湖区蠡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及基于深层神经网络的电子元器件批量信息检测方法，包括：获取待检测批量芯片的第一图像；对第一图像进行预处理得到增强的灰度图像作为第二图像；使用训练好的目标定位深层神经网络模型确定视野范围内所有芯片的位置；使用图像模板匹配计算出每个芯片的偏移角度；将所有目标依据偏移角度进行修正，并将其处理后得到的正向图单独截取出来作为第三图像；使用训练好的文本定位深层神经网络模型确定芯片表面文本区域位置并将其作为第四图像；使用训练好的字符识别深层神经网络模型确定第四图像文本区域的具体内容；通过串口将识别结果写入txt文档并发送给上位机软件。该方法检测的准确率高、检测效率高、检测成本低、通用性好、易维护。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 深层 神经网络 电子元器件 批量 信息 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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