[发明专利]一种集成电路测试机的自诊断电路及方法在审
| 申请号： | 202110577647.0 | 申请日： | 2021-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN113311313A | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 魏津;张经祥;吴艳平 | 申请（专利权）人： | 胜达克半导体科技(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 | 代理人： | 方燕娜;王雯婷 |
| 地址： | 201799 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机的自诊断电路及方法。包括集成电路测试机，集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，其特征在于：所述的集成电路测试机上设有若干ODD‑EVEN载具板、Utility Diag载具板，ODD‑EVEN载具板一端连接数字通道模块，ODD‑EVEN载具板另一端分别连接精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块，Utility Diag载具板连接多功能继电器模块；同现有技术相比，充分利用了集成电路测试机本身的资源，无需使用额外的测试设备，大大节省了设备成本。采用互联互测方案，对相同的测试项，可以并发性测试，奇数和偶数通道各测一次即可，节省了时间成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 诊断 电路 方法 | ||
【主权项】：
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