[发明专利]一种低龄儿童龋风险评估方法、系统及存储介质在审

专利信息
申请号: 202110584532.4 申请日: 2021-05-27
公开(公告)号: CN113284622A 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 瞿星 申请(专利权)人: 四川大学华西医院
主分类号: G16H50/30 分类号: G16H50/30;G06F16/21
代理公司: 重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙) 50230 代理人: 任苇
地址: 610041*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种低龄儿童龋风险评估方法、系统及存储介质,方法包括:S1、构建基于Logistic回归模型的低龄儿童龋风险评估模型;S2、获取目标儿童数据;S3、基于低龄儿童龋风险评估模型,获得目标儿童的龋风险概率;S4、根据目标儿童的龋风险概率,生成目标儿童的患龋风险报告;S5、根据目标儿童的患龋风险报告,生成目标儿童的书面家庭护理指导。本发明是基于我国儿童的行为特征建立低龄儿童龋风险评估模型进行评估,评估结果准确,适合我国国情。
搜索关键词: 一种 儿童 风险 评估 方法 系统 存储 介质
【主权项】:
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