[发明专利]一种基于CT轴扫描的坏点校正方法有效

专利信息
申请号: 202110584577.1 申请日: 2021-05-27
公开(公告)号: CN113223109B 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 陈婷;陈伟;蒋唯 申请(专利权)人: 明峰医疗系统股份有限公司
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00;G06T7/70;G16H30/20;G01N23/046
代理公司: 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 代理人: 周希良
地址: 311215 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种基于CT轴扫描的坏点校正方法,包括以下步骤:S1、判断待校正坏点的共轭位置点是否为坏点;若否,则将待校正坏点的共轭位置点对应的投影值作为待校正坏点的校正值,转至步骤S3;若是,转至步骤S2;S2、选取待校正坏点的目标邻域内的像素点,并根据像素点的投影值得到待校正坏点的校正值,转至步骤S3;S3、利用待校正坏点的校正值对待校正坏点进行插值校正。本发明提升了坏点校正的精度。本发明的基于CT轴扫描的坏点校正方法,在坏点校正过程中采用共轭位置点的投影信息,有利于提升坏点校正的精度。
搜索关键词: 一种 基于 ct 扫描 校正 方法
【主权项】:
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