[发明专利]一种芯片、验证装置、芯片验证方法和芯片验证系统在审
| 申请号： | 202110585228.1 | 申请日： | 2021-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN113239342A | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 刘杏肖;其他发明人请求不公开姓名 | 申请（专利权）人： | 广州众诺电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F21/44 | 分类号： | G06F21/44 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 刘晓娟 |
| 地址： | 510663 广东省广州市高新技术产业*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请公开了一种芯片、验证装置、芯片验证方法和芯片验证系统，其中芯片验证方法包括：当获取到验证装置发送的第一验证指令时，获取存储于第一地址中的芯片UID号和第一数据；通过预置接口发送所述芯片UID号和所述第一数据至所述验证装置，使得所述验证装置根据所述芯片UID号和所述第一数据，进行所述第一验证指令对应的验证；当所述第一验证指令对应的验证结果为验证成功时，获取所述验证装置发送的第二验证指令；运行所述第二验证指令对应的第二数据，以进行所述第二验证指令对应的验证。解决了现有技术在对芯片进行验证时，需要使用多台验证装置，验证成本较高，且芯片需要在不同机器之间进行流转，验证耗时较长的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 验证 装置 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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