[发明专利]一种屏幕缺陷的检测方法有效
| 申请号： | 202110588028.1 | 申请日： | 2021-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN113390611B | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 徐博超;张莲莲;李伟;田永军;陶平;靳松;陈永超;陈晨 | 申请（专利权）人： | 北京兆维科技开发有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 李昆蔚 |
| 地址： | 100015 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种屏幕缺陷的检测方法，属于屏幕缺陷检测技术领域。本检测方法包括以下步骤：将屏幕处于黑画面和亮画面状态下拍摄，获得黑画面图像和亮画面图像，确定缺陷位置；当在黑画面存在缺陷时，根据黑画面图像对缺陷提取，并对缺陷检测，确定缺陷所在层级，即为缺陷信息A；当在亮画面存在缺陷时，根据亮画面图像对缺陷提取，并对缺陷检测，确定缺陷所在层级，即为缺陷信息B；根据亮画面图像，获得屏幕表面灰尘脏污的干扰缺陷；将缺陷信息A或缺陷信息B去除得到的干扰缺陷，即检测出屏幕缺陷。本检测方法可以获取缺陷所在层级，从而确定缺陷是否为可修复缺陷，提高产量，并能判别出表面脏污与内部真实缺陷，降低了过检率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 屏幕 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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