[发明专利]半导体结构在审

专利信息
申请号: 202110589555.4 申请日: 2021-05-28
公开(公告)号: CN113451315A 公开(公告)日: 2021-09-28
发明(设计)人: 徐国修;张峰铭;林建隆;王屏薇;洪连嵘;张瑞文 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11;G11C11/412
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 聂慧荃;郑特强
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提出一种半导体结构。半导体结构包括静态随机存取存储器单元,静态随机存取存储器单元包括第一和第二上拉(PU)晶体管、第一和第二下拉(PD)晶体管、第一和第二传输栅(PG)晶体管以及位元线(BL)导体。第一上拉和第一下拉晶体管形成第一反相器。第二上拉和第二下拉晶体管形成第二反相器。第一和第二反相器交叉耦合以形成两个储存节点,其通过第一和第二传输栅晶体管耦接至位元线导体。第一和第二上拉晶体管形成在半导体结构的正面上方的N型有源区上方。第一和第二下拉晶体管以及第一和第二传输栅晶体管形成在半导体结构的正面上方的P型有源区上方。位元线导体设置在半导体结构的背面上方。
搜索关键词: 半导体 结构
【主权项】:
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