[发明专利]半导体器件和解码方法在审
| 申请号： | 202110591792.4 | 申请日： | 2021-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN113765835A | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 石见幸一;藤井谦雄 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | H04L25/49 | 分类号： | H04L25/49;H04B1/40 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 罗利娜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开的各实施例涉及半导体器件和解码方法。本发明是为了在采样频率不大于数据传输频率的情况下减少对由变化引起的误差边缘的检测。一种半导体器件包括：数据接收电路，被配置为在第一时间接收第一数据并且在第二时间接收第二数据；以及边缘识别电路，被配置为设置范围并且检测该范围中包含的边缘。边缘识别电路包括测量电路，该测量电路被配置为测量从第一数据的接收到第二数据的接收所花费的第一时段，并且被配置为基于第一时段来确定其中检测到由数据接收电路所接收的数据中包含的边缘的范围。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 解码 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞萨电子株式会社，未经瑞萨电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110591792.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：掩模制造设备和使用该掩模制造设备制造掩模的方法
- 下一篇：功率模块
