[发明专利]集成半导体器件、晶体管和制造突起场效应晶体管的方法在审

专利信息
申请号: 202110591884.2 申请日: 2021-05-28
公开(公告)号: CN113380800A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 马可·范·达尔;荷尔本·朵尔伯斯;乔治奥斯·韦理安尼堤斯 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L21/8238;H01L27/22;H01L27/24
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 提供了晶体管、集成半导体器件及制造方法。该晶体管包括:具有多个介电突起的介电层;共形地覆盖介电层的突起以在两个相邻的介电突起之间形成多个沟槽的沟道层;设置在沟道层上的栅极层。栅极层106具有配接到沟槽中的多个栅极突起。该晶体管还包含栅极层旁边的有源区。有源区电连接至沟道层。
搜索关键词: 集成 半导体器件 晶体管 制造 突起 场效应 方法
【主权项】:
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