[发明专利]存储器件及其铁电场效应晶体管和读取方法在审

专利信息
申请号: 202110602234.3 申请日: 2021-05-31
公开(公告)号: CN113380892A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 林孟汉;黄家恩;贾汉中;刘逸青;杨世海;王奕 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/51;H01L27/1159;G11C11/22
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种配置为多位存储器件的铁电场效应晶体管(FeFET),该FeFET包括:半导体衬底,在该半导体衬底中具有源极区,在该半导体衬底中具有漏极区;栅极堆叠件在半导体衬底上,其中源极区和漏极区延伸到栅极堆叠件的相对侧,该栅极堆叠件包括在半导体衬底上方的铁电层,以及在铁电层上方的栅极区。晶体管还包括铁电层的第一端和第二端,其分别对应于源极和漏极区。铁电层包括偶极子。在铁电层的第一端的第一组偶极子具有第一极化。在铁电层的第二端的第二组偶极子具有第二极化,第二极化与第一极化基本上相反。本发明的实施例还涉及存储器件及读取铁电场效应晶体管的方法。
搜索关键词: 存储 器件 及其 电场 效应 晶体管 读取 方法
【主权项】:
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