[发明专利]光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置在审

专利信息
申请号: 202110603388.4 申请日: 2021-05-31
公开(公告)号: CN113237549A 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 石广立;蔡宏太;王冰 申请(专利权)人: 北京卓立汉光分析仪器有限公司;北京卓立汉光仪器有限公司
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/02
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 董骁毅;叶明川
地址: 101407 北京市怀柔区雁栖*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本申请实施例提供一种光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置,所述方法包括;获取待测光谱打在探测器不同位置时的效率;构建一斜弧面,并根据所述斜弧面对所述待测光谱进行校正操作,其中,所述斜弧面的长度方向值和高度方向值的数值对应关系由所述待测光谱打在探测器不同位置时的效率确定;本申请能够快速、准确和便捷的对光谱进行校正,以使当前波长打在探测器的不同像素上时其效率保持基本一致,最终使两次摄谱完美的拼接在一起。
搜索关键词: 光谱 校正 方法 装置 采集
【主权项】:
暂无信息
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