[发明专利]偏振光检测方法、光子集成芯片及探测器在审
| 申请号： | 202110605794.4 | 申请日： | 2021-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN113358216A | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 韩春蕊;王宇;周维虎;刘思远 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01J1/04 | 分类号： | G01J1/04;G01J1/44 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 孙蕾 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供一种偏振光检测方法，包括：将入射偏振光处理为TE偏振光和TM偏振光；调控所述TE偏振光和TM偏振光之间的相位差并进行合成获得相位差连续改变的全相位调制偏振光；探测所述全相位调制偏振光作用于谷赝自旋材料时产生的谷霍尔电流，从而获得入射偏振光中TE偏振光分量和TM偏振光分量之间相位差；探测所述TE偏振光和TM偏振光的光强；以及根据所述TE偏振光和TM偏振光的光强，以及所述相位差获得初始入射偏振光的椭偏度。同时本公开还提供一种偏振光检测光子集成芯片及探测器。 | ||
| 搜索关键词： | 偏振光 检测 方法 光子 集成 芯片 探测器 | ||
【主权项】：
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