[发明专利]一种芯片检测分选设备有效

专利信息
申请号: 202110605814.8 申请日: 2021-05-31
公开(公告)号: CN113426701B 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 欧志荣;刘旭海;温志刚;唐政;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族电机科技有限公司
主分类号: B07C5/34 分类号: B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36
代理公司: 深圳市世联合知识产权代理有限公司 44385 代理人: 汪琳琳
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及生产自动化设备技术领域,公开一种芯片检测分选设备。该设备包括:吸取检测组件,包括运动平台、设置在运动平台上的检测模块和吸附件;芯片料盘放置包括用于放置芯片的芯片料盘;滚轮流道组件用于承接芯片载具,并使芯片夹具与所述芯片载具相分离,待芯片被吸取后芯片夹具复位;相机模组用于检测吸附件的位置和角度信息;所述检测模块用于对芯片进行检测,在检测符合要求后进行等级识别,并确定芯片和芯片料盘的位置信息;根据所述位置和角度信息,驱动所述吸附件平移吸取芯片,并将芯片放置在对应级别的所述芯片料盘上。本发明能够实现对芯片进行自动检测分选,大大提高设备的自动化程度,也提高了设备的工作效率。
搜索关键词: 一种 芯片 检测 分选 设备
【主权项】:
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