[发明专利]一种线性光隔离放大器的隔离电压的检测方法在审
| 申请号： | 202110609366.9 | 申请日： | 2021-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN113466654A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 李芳;吴洋;庄永河;李鸿高 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十三研究所 |
| 主分类号： | G01R31/27 | 分类号： | G01R31/27 |
| 代理公司： | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人： | 金凯 |
| 地址： | 230088 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了隔离电压检测领域的一种线性光隔离放大器的隔离电压的检测方法，包括S1：提供线性光耦，将线性光耦发光管的阴极连接输入电路的输入地，阳极连接输入电路的输出端；反馈管的阴极、阳极分别连接输入电路的两个输入端，传输管的阴极连接输出电路的输出地，阳极连接输出电路的输入端，线性光耦与输入地、输出地连接的导带走线不交叉；S2：提供隔离电压测试仪，在输入电路的输入地、输出电路的输出地之间加压，通过击穿电压测试仪检测在改变至少一个影响因素下的线性光耦的隔离电压，所述影响因素包括线性光耦的输入地与输出地之间的导带间距。本发明提供的测试方法可以研究线性光耦的击穿电压与影响因素本身的联系，有利于生产厂商进一步地改进线性光耦的性能，为其提供借鉴。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 线性 隔离放大器 隔离 电压 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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