[发明专利]内存测试方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110609485.4 | 申请日： | 2021-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN115437856A | 公开（公告）日： | 2022-12-06 |
| 发明（设计）人： | 李晓磊 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 | 代理人： | 边明威 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开是关于一种内存测试方法、装置、设备及存储介质。其中，内存测试方法包括：获取预设内存和待测内存；将待测内存设置为预留内存；启动操作系统，其中，操作系统运行于预设内存中；执行内存测试程序，测试待测内存，其中，内存测试程序运行于预设内存中。该内存测试方法中，提前准备一个预设内存，并使操作系统以及内存测试程序均运行于预设内存，以对待测内存的全部存储单元进行测试。该内存测试方法将待测内存置于操作系统的运行环境进行测试，测试结果更加可靠。而且，待测内存未运行操作操作系统和内存测试程序，因此，在对待测内存进行测试时，可以消除待测内存中各存储单元间的耦合影响，以更好地确保测试的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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