[发明专利]内存测试方法、装置、设备及存储介质在审
申请号: | 202110609485.4 | 申请日: | 2021-06-01 |
公开(公告)号: | CN115437856A | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 李晓磊 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 | 代理人: | 边明威 |
地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本公开是关于一种内存测试方法、装置、设备及存储介质。其中,内存测试方法包括:获取预设内存和待测内存;将待测内存设置为预留内存;启动操作系统,其中,操作系统运行于预设内存中;执行内存测试程序,测试待测内存,其中,内存测试程序运行于预设内存中。该内存测试方法中,提前准备一个预设内存,并使操作系统以及内存测试程序均运行于预设内存,以对待测内存的全部存储单元进行测试。该内存测试方法将待测内存置于操作系统的运行环境进行测试,测试结果更加可靠。而且,待测内存未运行操作操作系统和内存测试程序,因此,在对待测内存进行测试时,可以消除待测内存中各存储单元间的耦合影响,以更好地确保测试的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 内存 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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