[发明专利]一种超导单光子探测器探测效率测试装置与方法有效
| 申请号： | 202110611315.X | 申请日： | 2021-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN113310574B | 公开（公告）日： | 2022-07-15 |
| 发明（设计）人： | 庄新港;史学舜;刘长明;张鹏举;刘红博;赵发财;沈荣仁 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J1/08 |
| 代理公司： | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人： | 陈岚崴 |
| 地址： | 266000 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种超导单光子探测器探测效率测量装置及方法，其中装置由宽光谱相对探测效率测量系统和特殊波长点下的绝对探测效率测量系统组成。测量方法是首先完成超导单光子探测器在特定偏振条件下的宽波段相对探测效率测量，获取相对探测效率曲线；然后在同一偏振条件下进行数个特殊波长点下的绝对探测效率测量，并用该波长点下的绝对探测效率对相对探测效率曲线进行校正，从而实现特定偏振条件下宽波段绝对探测效率的精确测量。本发明方法较为简易和快捷，用于实现对超导单光子探测器在宽光谱范围下探测效率的绝对测量；同时实现在不同入射光偏振态下对超导单光子探测器探测效率的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超导 光子 探测器 探测 效率 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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