[发明专利]一种在GaAs衬底上生长GaInP薄膜的方法在审

专利信息
申请号: 202110611917.5 申请日: 2021-06-02
公开(公告)号: CN113363338A 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 程文涛;王健;孙强;张嵩;张超;董增印;李贺 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十六研究所
主分类号: H01L31/0304 分类号: H01L31/0304;H01L31/18
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 王凤英
地址: 300220*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种在GaAs衬底上生长GaInP薄膜的方法。一、将具有2‑4º偏角的2英寸GaAs衬底清洗腐蚀;二、以金属Ga和金属In作为反应源,将Ga舟、In舟和衬底装炉并抽真空后通入H2,去除衬底表面杂质;三、将第一反应区的温度升入700‑800℃,通入HCl后,在第一反应区生成GaCl和InCl;四、将第二反应区的温度升入600‑660℃后关闭HCl,通入PH3后,在第二反应区生成GaInP薄膜;五、将第二反应区的温度降至室温后取样。采用HVPE工艺由于Ⅲ族反应源为有机源金属镓和金属铟且生长速度快,可以降低GaInP薄膜的制作成本,扩大电池的应用范围,使得太阳电池应用于地面领域成为可能。
搜索关键词: 一种 gaas 衬底 生长 gainp 薄膜 方法
【主权项】:
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