[发明专利]一种基于位相编码元件的结构光三维形貌测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 202110615700.1 申请日: 2021-06-02
公开(公告)号: CN113237437A 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 马锁冬;严祺;许峰;陈旭 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 陶海锋
地址: 215137 *** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及一种基于位相编码元件的结构光三维形貌测量方法及装置。计算机模块将二值化或正弦条纹的编码参数输入投影模块,生成相应的条纹图案,再经位相编码元件调制后在轴向延拓的景深范围内形成标准正弦光场图案,投射到位于载物平台上的待测元件表面,相机模块采集由其反射的位相编码变形条纹图案,输入计算机模块,经数据处理得到待测元件表面的三维形貌分布。本发明利用位相编码元件有效地调制投影用二值化或正弦条纹,在保证轴向投影光场正弦一致性的基础上,极大地延拓了系统的投影成像景深;采用位相编码条纹相位解调算法,增强了所获得位相编码变形条纹图的对比度和正弦性,抑制包裹相位的解调误差,有效提升了三维形貌的测量精度。
搜索关键词: 一种 基于 位相 编码 元件 结构 三维 形貌 测量方法 装置
【主权项】:
暂无信息
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