[发明专利]一种自适应盲检方法、装置、设备及介质在审

专利信息
申请号: 202110616328.6 申请日: 2021-06-02
公开(公告)号: CN113556299A 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 朱洪飞;汪奕汝;赵玉萍;李斗 申请(专利权)人: 北京大学;北京瀚诺半导体科技有限公司
主分类号: H04L25/02 分类号: H04L25/02
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 谷波
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开涉及一种自适应盲检方法、装置、介质及设备,其中,所述方法包括:初始化连续消除列表译码算法的当前列表尺寸Lnow的初始值以及最大列表尺寸Lmax;利用所述连续消除列表译码算法对所有的物理下行控制信道进行译码并进行循环冗余校验,若有物理下行控制信道候选者通过了循环冗余校验,则用户设备盲检成功,结束流程。仿真结果表明,本公开所提自适应盲检可以在实现与单阶段盲检和双阶段盲检相同的漏检率(Missed Detection Rate,MDR)的前提下,大大降低盲检过程所需的平均的L值,从而显著地降低了盲检的时间复杂度。
搜索关键词: 一种 自适应 方法 装置 设备 介质
【主权项】:
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