[发明专利]一种用于建筑墙体的垂直测量装置及其测量方法有效
| 申请号： | 202110617712.8 | 申请日： | 2021-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN113218377B | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 于银霞 | 申请（专利权）人： | 扬州工业职业技术学院 |
| 主分类号： | G01C15/00 | 分类号： | G01C15/00;G01C15/12;G01C9/02 |
| 代理公司： | 北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) 11589 | 代理人： | 奚兴邦 |
| 地址： | 225000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于建筑墙体的垂直测量装置及其测量方法。该装置包括有机架、工作台、铰接座，以及可见激光照准器，工作台侧面设置有成比例测量机构，成比例测量机构包括有平台，平台上表面上设置有回转导杆机构，该装置通过待测量墙体与可见激光照准器之间的位置关系，利用成比例测量机构将原有的待测量墙体垂直度经环形盘上的刻度值进行显现，利用比例关系将整体尺寸进行成比例缩小，便于进行记录观察，同时采集多组数据，以确保数据的准确性，该装置能够运用于工业生产，具有很强的实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 建筑 墙体 垂直 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
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