[发明专利]一种新型碳化硅超薄n型欧姆接触层n-i-p型极深紫外探测器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110623694.4 申请日: 2021-06-04
公开(公告)号: CN113328007A 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 陆海;王致远;周东;徐尉宗 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: H01L31/105 分类号: H01L31/105;H01L31/028;H01L31/18
代理公司: 南京中律知识产权代理事务所(普通合伙) 32341 代理人: 李建芳
地址: 210023 江苏省南京市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种新型碳化硅超薄n型欧姆接触层n‑i‑p型极深紫外探测器及其制备方法,该探测器包括从下到上依次相接的衬底、p型SiC高掺外延层、p型SiC低掺外延层、n型SiC超薄高掺外延层和n型欧姆接触电极,p型SiC高掺外延层上设有p型欧姆接触电极,n型欧姆接触电极和p型欧姆接触电极上均设有金属导电电极,n型SiC超薄高掺外延层的厚度不大于30nm。本发明有效规避了传统p‑i‑n结构常规紫外探测器在应用于EUV波段探测时所发生的EUV光子在表面高掺杂p型层中的强吸收,有效提升了EUV波段探测器的量子效率;同时有效规避了肖特基结EUV探测器在应用于高能光子辐照以及高温环境中时存在于辐照稳定性以及温度稳定性方面的风险。
搜索关键词: 一种 新型 碳化硅 超薄 欧姆 接触 深紫 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
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