[发明专利]一种新型碳化硅超薄n型欧姆接触层n-i-p型极深紫外探测器及其制备方法在审
申请号: | 202110623694.4 | 申请日: | 2021-06-04 |
公开(公告)号: | CN113328007A | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 陆海;王致远;周东;徐尉宗 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | H01L31/105 | 分类号: | H01L31/105;H01L31/028;H01L31/18 |
代理公司: | 南京中律知识产权代理事务所(普通合伙) 32341 | 代理人: | 李建芳 |
地址: | 210023 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种新型碳化硅超薄n型欧姆接触层n‑i‑p型极深紫外探测器及其制备方法,该探测器包括从下到上依次相接的衬底、p型SiC高掺外延层、p型SiC低掺外延层、n型SiC超薄高掺外延层和n型欧姆接触电极,p型SiC高掺外延层上设有p型欧姆接触电极,n型欧姆接触电极和p型欧姆接触电极上均设有金属导电电极,n型SiC超薄高掺外延层的厚度不大于30nm。本发明有效规避了传统p‑i‑n结构常规紫外探测器在应用于EUV波段探测时所发生的EUV光子在表面高掺杂p型层中的强吸收,有效提升了EUV波段探测器的量子效率;同时有效规避了肖特基结EUV探测器在应用于高能光子辐照以及高温环境中时存在于辐照稳定性以及温度稳定性方面的风险。 | ||
搜索关键词: | 一种 新型 碳化硅 超薄 欧姆 接触 深紫 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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